比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)方法研究

2014-02-27 趙瀾 蘭州空間技術(shù)物理研究所

  比較法校準(zhǔn)真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔是通過四極質(zhì)譜計比較氣體流量計提供的標(biāo)準(zhǔn)氣體流量與被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔產(chǎn)生的離子流獲得校準(zhǔn)值。主要介紹了比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)方法、裝置原理、校準(zhǔn)過程及校準(zhǔn)結(jié)果的處理等,并提出了減小測量不確定度的影響因素。

1、引言

  真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔是一種作為參考標(biāo)準(zhǔn)進行真空漏率量值傳遞的漏孔,主要原理是在壓力或濃度差的作用下,使氣體從氣室的一側(cè)通過器壁的孔洞、孔隙、滲透元件流出,該漏孔主要用于氦質(zhì)譜檢漏儀漏率的校準(zhǔn)。常用真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)方法一般分為定容法、恒壓法、比較法。定容法是將真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔流出的氣體引入到已知容積的定容室中,通過測量單位時間內(nèi)壓力的變化量及定容室容積值,計算出真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率的一種校準(zhǔn)方法,校準(zhǔn)范圍一般為1×10-2~1×10-8 Pa·m3/s。恒壓法是將真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔流出的氣體引入到變?nèi)菔抑校B續(xù)改變變?nèi)菔胰莘e使變?nèi)菔覂?nèi)氣體壓力保持不變,通過測量單位時間內(nèi)變?nèi)菔胰莘e變化量及變?nèi)菔覊毫χ担嬎愠稣婵諛?biāo)準(zhǔn)漏孔漏率的一種校準(zhǔn)方法,校準(zhǔn)范圍一般為1×10-3~1×10-8 Pa·m3/s。比較法是通過比較氣體流量計提供的已知流量和真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔流出的待測漏率計算出真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率的一種校準(zhǔn)方法,校準(zhǔn)范圍為1×10-7~1×10-11 Pa·m3/s。其中,恒壓法、定容法主要用于直接測量較大漏率的真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔,比較法主要用于校準(zhǔn)較小漏率的漏孔。

2、比較法校準(zhǔn)真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的裝置及原理

  比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)裝置一般由真空抽氣機組、流量比較室、質(zhì)譜計、監(jiān)測真空計、穩(wěn)壓小孔及流量計等組成,校準(zhǔn)裝置的原理圖如圖1所示。

比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)裝置原理圖

圖1 比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)裝置原理圖

1.真空抽氣機組;2、6、7.截止閥;3.校準(zhǔn)室;4.質(zhì)譜計;5.流量計;8.被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔;9.真空計;10.穩(wěn)壓小孔。

  真空抽氣機組一般由分子泵及機械泵串聯(lián)組成,滿足流量比較室極限真空小于10-5Pa。流量比較室為上下球型結(jié)構(gòu)或上下柱形結(jié)構(gòu),中間為限流小孔,氣體從流量計或真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔引入上球后,通過限流小孔被真空抽氣機組抽走一部分,在上球室中形成動態(tài)平衡。質(zhì)譜計一般選用四極型質(zhì)譜計,主要用于測量上球室中校準(zhǔn)氣體產(chǎn)生的離子流。流量計主要用于提供標(biāo)準(zhǔn)流量,一般分為定容式氣體流量計、恒壓式氣體流量計及固定流導(dǎo)式氣體流量計等。

  比對法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)是將真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔流出的氣體和流量計提供的已知流量的氣體分別引入校準(zhǔn)室中,并用質(zhì)譜計分別測量校準(zhǔn)氣體動態(tài)平衡時產(chǎn)生的離子流,通過比較兩次離子流的測量值,從而得到真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏率值。

  被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率按公式(1)計算。

真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率

  式中:QL為被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率,Pa·m3/s;Q為流量計提供的已知流量,Pa·m3/s;IL為被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔漏入氣體后質(zhì)譜計對應(yīng)氣體的離子流,A;IS為流量計流入氣體后質(zhì)譜計對應(yīng)氣體的離子流,A;I0為裝置本底對應(yīng)氣體的離子流,A。

3、比較法校準(zhǔn)真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的步驟

  校準(zhǔn)步驟如下:

  (a)在滲氦型真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)前,開啟漏氣閥并在校準(zhǔn)環(huán)境中穩(wěn)定至少6h;需烘烤清除的通道型漏孔烘烤溫度至少100℃,烘烤時間至少2h;

  (b)將被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔8連接到校準(zhǔn)裝置上;

  (c)開截止閥2、6、7,利用真空機組1對校準(zhǔn)裝置抽氣,使校準(zhǔn)室壓力小于1.0×10-5 Pa;

  (d)打開四極質(zhì)譜計4,調(diào)整質(zhì)譜計的參數(shù)使其處于穩(wěn)定的工作狀態(tài);

  (e)關(guān)閉截止閥6、7;

  (f)向被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔8的入口端施加特定壓力下的校準(zhǔn)氣體,打開截止閥7,將被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔流出的氣體引入校準(zhǔn)室中,被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率為QL,漏率穩(wěn)定后測量此時質(zhì)譜計4對應(yīng)的離子流IL;關(guān)閉截止閥7,用質(zhì)譜計4測量系統(tǒng)的本底對應(yīng)離子流I0;

  g)打開截止閥6,經(jīng)流量計5流入校準(zhǔn)室中已知流量QS的校準(zhǔn)氣體,調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)流量離子流與被校漏孔的離子流相近,流量穩(wěn)定后測量此時質(zhì)譜計4對應(yīng)的離子流IS;關(guān)閉截止閥6;記錄校準(zhǔn)溫度;

  h)重復(fù)f)~g)的操作過程,測量n組數(shù)據(jù),一般n≥6。

7、結(jié)束語

  文章介紹了一種比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)方法,該方法操作簡單,校準(zhǔn)不確定度小,可用于現(xiàn)場及工作用真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)。通過對比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)方法的研究得出,影響比較法真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)結(jié)果的因素主要由氣體流量計流量測量、四極質(zhì)譜計計量特性、系統(tǒng)本底、被校真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的穩(wěn)定性等四部分。要減小測量不確定度,需要研制測量不確定度小的氣體微流量計;選擇重復(fù)性好的四極質(zhì)譜計;校準(zhǔn)過程中,調(diào)節(jié)氣體微流量計,使標(biāo)準(zhǔn)流量與真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率相近或相同,避免四極質(zhì)譜計的非線性影響等。因此,通過嚴(yán)格控制各不確定度影響分量,可進一步減小比較法校準(zhǔn)真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的校準(zhǔn)結(jié)果測量不確定度,提高比較法校準(zhǔn)真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔的準(zhǔn)確度。