離子發(fā)動機空心陰極壽命預(yù)測

2009-09-06 郭寧 蘭州物理研究所真空低溫技術(shù)與物理國家級重點實驗室

  空心陰極是離子發(fā)動機的心臟,其壽命直接決定離子發(fā)動機系統(tǒng)的壽命。目前,國際上離子發(fā)動機的地面驗證壽命已經(jīng)從10000h擴展到30000h,飛行驗證已經(jīng)達到16000h。針對我國15年壽命的通訊衛(wèi)星南北位置保持的使命,在考慮備份的情況下, 空心陰極壽命可靠壽命應(yīng)該達到10000h以上。在實驗研究的基礎(chǔ)上,進行空心陰極壽命預(yù)測,并根據(jù)預(yù)測結(jié)果優(yōu)化研制方案,可較大幅度降低空心陰極研制成本,提高研制效率。本文結(jié)合蘭州物理研究所3500h空心陰極壽命實驗結(jié)果,對空心陰極壽命進行了預(yù)測研究。

1、試驗裝置及方法

1.1、空心陰極

  蘭州物理所設(shè)計的空心陰極的結(jié)構(gòu)參數(shù)在08年投稿在真空技術(shù)網(wǎng)中“20cm氙離子發(fā)動機空心陰極3000h壽命試驗”一文已經(jīng)詳細說明。該空心陰極的發(fā)射體采用LaB6材料制成。發(fā)射體內(nèi)徑2mm, 長度8mm,外徑4mm。LaB6的突出特點是抗中毒能力強,其抗中毒閾值比傳統(tǒng)的鋇鎢陰極高2~3個數(shù)量級。LaB6在600℃以下,不會與空氣發(fā)生反應(yīng),可長期在大氣環(huán)境中儲存。基于以上特點,LaB6空心陰極應(yīng)用于離子發(fā)動機可帶來兩方面益處,其一,可降低對離子發(fā)動機工質(zhì)純度的要求,其二,可大幅放松離子發(fā)動機儲存對環(huán)境的要求。因此,LaB6空心陰極已經(jīng)引起國內(nèi)外的重視。

1.2、試驗條件及程序

  壽命試驗在蘭州物理研究所Ts1000設(shè)備的真空室中進行,試驗采用三極管結(jié)構(gòu)。三極管結(jié)構(gòu)的詳細參數(shù)已經(jīng)詳細敘述。試驗過程開始前,首先將真空室本底抽至8×10-4Pa;然后,向陰極管中通入Xe氣,陰極加熱器加電,當發(fā)射體被加熱到1800K以上時,觸持極加800V高壓,實現(xiàn)空心陰極點火;點火成功后,開啟陽極電源,從空心陰極中引出電流,這時,陰極加熱器斷電,陰極實現(xiàn)自持放電。

  試驗中,通入到陰極的Xe流率維持在0.1mg/s,此時真空室真空度穩(wěn)定在2×10-3Pa;陽極采用穩(wěn)流電源將放電電流(即發(fā)射電流)維持在額定電流5.00 A,通過監(jiān)測陽極電壓(即放電電壓)隨試驗時間的變化關(guān)系,掌握陰極狀態(tài)的變化。試驗中采用的Xe純度為99.9996%。

2、壽命試驗結(jié)果

  3500h壽命試驗的情況在上文中已經(jīng)詳細敘述,在3500h壽命試驗后,空心陰極性能穩(wěn)定,仍然可繼續(xù)正常工作。為進行壽命預(yù)測,對空心陰極組件進行了解剖分析。解剖分析表明,在空心陰極各零部件中,發(fā)射體變化最明顯,出現(xiàn)了可見的損耗,經(jīng)過測量,發(fā)射體內(nèi)徑從2mm 變化到2.30mm,外直徑無變化,即整個壽命試驗期間,發(fā)射體消耗了0.15mm,平均消耗速率為42.85μm/1000h。

3、壽命預(yù)測

3.1、幾點假設(shè)

  第一,因LaB6發(fā)射體尺寸較小,且其熱導(dǎo)率很高,故假設(shè)整個發(fā)射體的表面溫度均勻, 各點電流發(fā)射密度相同;

  第二,因本試驗中采用的工質(zhì)氣體Xe純度高達99.9995%,假設(shè)工質(zhì)氣體與陰極各零部件不發(fā)生化學(xué)反應(yīng);

  第三,因空心陰極放電電壓在30V以下,產(chǎn)生的Xe離子能量不超過30eV, 不會對發(fā)射體產(chǎn)生濺射,因此,假設(shè)蒸發(fā)是發(fā)射體損耗的唯一途徑;

  第四,根據(jù)3500h空心陰極壽命試驗的結(jié)果,發(fā)射體是壽命試驗中變化最明顯的零件,因此,假設(shè)發(fā)射體壽命是制約空心陰極壽命的首要因素;

  第五,根據(jù)LaB6材料的電子發(fā)射原理,LaB6蒸發(fā)損耗的過程與發(fā)射體表面更新過程完全同步,因此,假設(shè)直至發(fā)射體損耗殆盡,發(fā)射體壽命才終止。

3.2、壽命模型

  根據(jù)以上假設(shè),通過計算發(fā)射體消耗殆盡所需時間,即可計算發(fā)射體壽命。發(fā)射體在支取不同電流密度情況下,其蒸發(fā)速率有所不同。下面對發(fā)射體發(fā)射電流密度與蒸發(fā)速率之間的關(guān)系進行了推導(dǎo)。式(1)是發(fā)射體電流密度計算公式。根據(jù)真空技術(shù)網(wǎng)另文中敘述,對LaB6發(fā)射體,發(fā)射常數(shù)取30A/(cm2K2),發(fā)射體表面逸出功取2.66;空心陰極內(nèi)肖特基效應(yīng)引起的逸出功減少量約為0.05eV。

式中Je———發(fā)射電流密度,A/cm2
  A———發(fā)射常數(shù),A(/ cm2.K2)
  T———發(fā)射體表面溫度,K
  φ———發(fā)射體表面逸出功,eV
  φs———肖特基效應(yīng)引起的逸出功減少量,eV
  K———波茲曼常數(shù),1.381×10- 23 J·K