基于斷裂力學(xué)的O型密封圈疲勞性能研究

2014-12-22 董作見(jiàn) 西南交通大學(xué)機(jī)械工程研究所

  根據(jù)斷裂力學(xué)中的應(yīng)變能釋放率,制定疲勞斷裂參數(shù),對(duì)得到的O 型密封圈實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合歸類(lèi)處理,得到計(jì)算O 型密封圈疲勞壽命模型,并計(jì)算密封圈上危險(xiǎn)截面單元的疲勞壽命。同時(shí),利用疲勞分析軟件對(duì)密封圈進(jìn)行分析,找到密封圈上疲勞斷裂的危險(xiǎn)截面,并計(jì)算出危險(xiǎn)截面節(jié)點(diǎn)上的疲勞壽命。比較斷裂力學(xué)計(jì)算結(jié)果、疲勞分析軟件分析結(jié)果和實(shí)驗(yàn)結(jié)果,表明3 種方法得到的危險(xiǎn)截面出現(xiàn)的位置和疲勞壽命基本一致,證明了運(yùn)用斷裂力學(xué)計(jì)算密封圈疲勞壽命的合理性。

  O型密封圈結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低廉、安裝方便并且不需要做周期性的調(diào)整,用于滑動(dòng)密封時(shí)密封性不受運(yùn)動(dòng)方向的影響,因此被廣泛應(yīng)用在各類(lèi)機(jī)械設(shè)備上。雖然O 型密封圈工作應(yīng)力值遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于屈服極限,但是長(zhǎng)期工作在周期性的載荷下,密封圈內(nèi)部會(huì)出現(xiàn)微小的裂紋,隨著交變應(yīng)力的繼續(xù),微小裂紋逐漸擴(kuò)張,最終導(dǎo)致密封圈疲勞失效,對(duì)機(jī)械設(shè)備可靠性產(chǎn)生嚴(yán)重的影響,所以對(duì)O 型密封圈疲勞性能研究具有較大的工程意義。

  國(guó)內(nèi)外對(duì)O 型密封圈的疲勞失效問(wèn)題早有一定的研究,主要有基于S/N 曲線(xiàn)的疲勞壽命預(yù)測(cè)、基于損傷力學(xué)的疲勞壽命預(yù)測(cè)和基于斷裂力學(xué)的裂紋擴(kuò)展法。S/N 曲線(xiàn)主要通過(guò)實(shí)驗(yàn)手段獲取,而橡膠密封圈具有較高的壽命,一般高達(dá)106 ~ 108 次,如果單純依靠實(shí)驗(yàn)來(lái)獲取,會(huì)耗大量的人力物力,所以在工程上應(yīng)用較少; 損傷力學(xué)體系尚在形成與發(fā)展之中,并且只能給出在概率統(tǒng)計(jì)下平均壽命,因此應(yīng)用也較少; 斷裂力學(xué)認(rèn)定材料內(nèi)部不可避免地存在裂紋、雜質(zhì)等缺陷,這些缺陷隨著時(shí)間的積累和載荷的施加,最終導(dǎo)致材料破壞,這比較符合橡膠制品疲勞失效的過(guò)程,因此被廣泛運(yùn)用在橡膠密封圈的疲勞性能研究。

  1、斷裂力學(xué)計(jì)算模型

  基于斷裂力學(xué)對(duì)O 型密封圈疲勞壽命的研究主要集中在能量釋放法上,通過(guò)彈性應(yīng)變能和能量釋放率這兩個(gè)參數(shù)來(lái)對(duì)密封圈裂紋擴(kuò)展進(jìn)行評(píng)估,彈性應(yīng)變能是密封圈疲勞裂紋擴(kuò)展的動(dòng)力,應(yīng)變能釋放率為每增加單位裂紋所釋放出來(lái)的能量。在裂紋擴(kuò)展過(guò)程中,密封圈的裂紋擴(kuò)速率可用公式(1) 表示。

基于斷裂力學(xué)的O型密封圈疲勞性能研究

  式中: B 為材料常數(shù); β 為裂紋擴(kuò)展常數(shù)。

  4、結(jié)論

  (1) 運(yùn)用斷裂力學(xué)裂紋擴(kuò)展法預(yù)測(cè)了O 型橡膠密封圈的疲勞壽命。在預(yù)測(cè)密封圈疲勞壽命時(shí),結(jié)合得到的具體實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合歸類(lèi)處理,得到計(jì)算O 型密封圈疲勞壽命模型,并計(jì)算不同載荷范圍內(nèi)密封圈的疲勞壽命極限。結(jié)果表明,密封圈最短疲勞壽命位置一般出現(xiàn)在其被擠入密封溝槽部分。

  (2) 運(yùn)用FEMFAT 軟件對(duì)O 型密封圈疲勞壽命進(jìn)行分析,得到不同載荷下密封圈安全系數(shù)危險(xiǎn)點(diǎn)的示意圖。

  (3) 比較斷裂力學(xué)計(jì)算結(jié)果、FEMFAT 軟件分析結(jié)果和實(shí)驗(yàn)結(jié)果,危險(xiǎn)截面出現(xiàn)的位置和疲勞壽命在數(shù)值上基本一致,證明了運(yùn)用斷裂力學(xué)裂紋擴(kuò)展法計(jì)算密封圈疲勞壽命的合理性,為O 型密封圈疲勞壽命研究提供參考。